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切割样品缺陷评估装置朝日测器 ALTIS-RP

描述：切割样品缺陷评估装置朝日测器 ALTIS-RP

使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。

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产品详情/ PRODUCT DETAIL

标题：切割样品缺陷评估装置朝日测器 ALTIS-RP

产品概述

切割样品缺陷评估装置朝日测器 ALTIS-RP

产品介绍：

使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。

它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备，这对于质量评估至关重要。

该设备是必须由用户安装和连接的设备。只需
将检测设备和 PC 放置在水平桌面上，并
用两根电缆连接检测设备和 PC 即可完成安装。

采用光转换相机链路延长器方法，可以使用单根光纤连接探测器和信号处理。

配备数字高性能计算单元，还可以检测仅限于目视检查的缺陷。

二维数字计算功能提供目视检查的检查能力。

这是将超高速摄像机、根据检查对象的专用照明、高速数字运算芯片、计算机等技术系统化而开发的高精度、高速检查系统。

扫描切割样品并检测缺陷。测试结果可以在下面的四个屏幕上确认。

您可以使用与测试时相同的屏幕配置来检查过去测试的数据。
您可以从过去的测试结果中选择任何数据，并将其以 CSV 格式保存到 USB 存储器。

您可以在与测试时相同的四个屏幕上检查过去的测试结果。

可以调出缺陷图像的浓度测量屏幕。
在密度测量屏幕上，您可以分析缺陷的灰度等级和尺寸。

最多可注册100个品种。
可以为每种产品类型注册检测灵敏度和尺寸等各种设置。开始检查时，只需选择注册的产品类型，就会设置适当的检查条件。

*启动设备时，每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。

可以使用波形监视器功能来调整检测器（摄像机/发射器）。

解决	宽度方向10μm×长度方向10μm
相机	C-MOS线传感器相机（单色）16384像素/680MHz
泛光灯	LED线照明（从下面选择）・ALTIS-RP（反射/透射）・ALTIS-R（反射）・ALTIS-P（透射）
样本量	尺寸：210mm x 297mm（A4 尺寸）厚度：0.05mm ~ 最大 1.0mm
检测判断	明/暗渐变、宽度/长度/面积
移动速度	工作台移动速度 6 m/min。
检验时间	约15秒（每张）
检验范围	拍摄范围：160 mm x 230 mm 测量范围：150 mm x 220 mm 图像文件存储容量：400 MB 图像文件存储数量：最多 2000 张图像　 *请联系我们了解检查尺寸（定制设计）
电源	AC100~220V 50/60Hz
个人电脑	CPU：Intel Core i7 3.4GHz 内存：16GB 扩展总线：PCI / PCI Express 硬盘容量：1TB 操作系统：Winows

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