晶圆缺陷光学检查灯185LE目视光源185LE现货

标题：晶圆缺陷光学检查灯185LE目视光源185LE现货

产品概述

晶圆缺陷光学检查灯185LE目视光源185LE现货

晶圆缺陷光学检查灯185LE目视光源185LE现货

185-LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)、触摸屏制造等行业。

高照度照明设备(表面检查灯) 185-LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源

产品介绍

超高照度卤素照明装置185LE-AL

★铝制灯罩重量1.2公斤

★可以选择拱形把手和锤子把手

★手型大型面板等检查

★基本性能与185LE标准型相同

SENA Superbeam185 LE-AL超高照度卤素照明装置

・通过孔径的切换可以选择最佳的照射直径。・使用的非球面透镜可以获得照度比好的光。・轻型铝制的安装灯屋。

・最大照度：照射距离310mm、照射直径55mmp为400.0001x以上（孔径10小时）

·与SENA超级光束185LE相同。灯罩重量12kg

·发光部：直流点灯17V185W塞纳原创灯

・照度调整：可以连续降低到最大照度的20%以下

日本sena lamp高照度目视检查灯185LE-AL是适合晶圆、镜头、玻璃基板的表面等检查

主要型号：

高照度照明设备(表面检查灯) 185LE-AL是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)，触摸屏制造等行业。

规格参数：

高照度照明设备(表面检查灯) 185-LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)、触摸屏制造等行业。